先进的集成电路测试设备，主要包括：
美国 Teradyne J750 超大规模集成测试系统。
美国 Teradyne A580 高级混合信号测试系统。
美国 Electroglas EG4090u 全自动探针台（ 5-8 英寸）。
美国 Credence Quartet One 测试系统。
日本 TSK 公司 UF200 全自动探针台（ 6 -8 英寸 ）。
美国 High Level 测试系统。
BJ3196 、 BJ3160 等国内自主研发的集成电路测试系统。